奧林巴斯手持式XRF碳載鉑分析儀V2CA

一、奧林巴斯手持式XRF元素分析儀簡介

奧林巴斯手持式XRF元素分析儀是全球專業(yè)的微型X熒光光譜技術商，生產的 Vanta系列、Delta系列、OMEGA系列、Alpha系列便攜式X射線螢光光譜分析儀占據歐美手提式X熒光分析儀70%的市場份額。奧林巴斯手持式XRF是全球**通過ISO9001質量體系認證的微型X熒光光譜技術分析儀器的生產廠商，同時通過了NATO AQAPI標準。(該標準為北大西洋公約組織對精密**及其零件供應商的*高品質要求)。

奧林巴斯手持式XRFX射線熒光光譜分析儀已經被廣泛應用于地質、采礦、金屬、土壤、環(huán)境、考古、木材、電子、醫(yī)藥、環(huán)保、汽車催化器、電力、石化、玩具、大型工程、鍋爐制造、再生資源金屬、玻璃的回收、刑事證據鑒定等各種不同領域的日常分析。

奧林巴斯手持式XRF于2006年與公司合作，成立了在中國**的銷售服務中心。為中國地區(qū)的客戶提供儀器安裝、軟件調試、使用培訓、儀器校驗、硬件維修與維護等售后服務。全程追蹤式售服管理體系讓你沒有后顧之憂。奧林巴斯手持式XRF，被聯(lián)合國原子能機構和聯(lián)合國環(huán)境規(guī)劃暑確認為*有效檢的應對有害元素檢測、礦石分析、合金分析、環(huán)境分析的產品，目前正服務于伊朗核查和歐美各大海關等重要部門。

2、Olympus Vanta系列儀器測厚原理

1. 測厚原理

X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關系。該關系首先由已知單位面積質量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。

I∞為初始射線強度，It為穿過物體后的射線強度，μ為衰減系數，ρ為材料密度，t為射線穿過的厚度。

當μ和I∞一定時，It僅僅是鍍層厚度t的函數，所以測出It就可以知道厚度t.，一般來說此方法的測試范圍在0.1um至100um之間

2. Olympus Vanta系列分析儀鍍層測試方法

2.1 標準曲線法

單層膜：測定由單一元素形成的*表面的膜厚

雙層膜：測定各由單一元素形成的*表面和**層的膜厚

合金單層膜：測定２個元素形成的在*表面的合金膜的厚度和組成

2.2 ＦＰ法（Fundamental?parameter Method法）

根據理論計算的方法，*多三層單元素，基底材料無任何限制

條件：樣品均一

需要的信息：

設置薄膜樣品的類型：對于多層膜樣品要知道每層的組成和近視厚度，每層的次序，便于計算理論熒光強度；

每層的密度；

選擇合適的特征譜線。

3. 實測案例（V2CA儀器測試結果）

Cu/Ag 鍍層厚度的測量

Ag 的 厚度范圍：2 um ~ 60 um

參考值為庫倫法

相對誤差 < 5%

三、Vanta V2CA元素分析儀技術性能

1. 真正實現在現場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。
2. 能夠為汽車，電力等多種行業(yè)提供包括銅鍍銀(Ag/Cu)，鋁鍍鎳(Ni/Al) 在內的多種鍍層測厚解決方案，*高可檢測三層鍍層。
3. 采用了新的Axont技術，在操作性能上達到新的突破，可使用戶在短時間內獲得更值得信賴的分析結果。 Axon技術可使不同Vanta儀器的各次檢測都具有非同一般的高重復性能。
4. 采用了完全重新設計的射線管、無高壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。結構更精密，縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離，某些應用信號提高了~40%.
5. 高性能SDD探測器，結合Axont技術實現分辨率突破性進展，檢測數據更加精準可靠。
6. 配備探測器防軋裝置，保護探測器窗口免受破損，節(jié)約成本；
7. 新的濾波輪更輕、更薄，在位置上更加接近被測樣品，具有8 個濾波器，可適應*高的配置，不同的元素采用不同的濾波器，產生*好的分析效果。
8. 熱插拔技術：儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關機，在系統(tǒng)運作中拔掉電池，有超過30秒的時間可以插入一個新電池。
9. 內置的氣壓計可以糾正氣壓，氣壓計壓力感應, 可根據不同的壓力調整，從而是檢測值更加準確。
10. 內置的加速器可探測運動和震動，使儀器不用時待機，拿起時工作。
11. 儀器開機并不需要標準化，可以直接測試，標準化僅僅是可選項。
12. 顯示屏：800*480(WVGA)液晶電容式觸摸屏，支持直接截屏操作；超大的圖標顯示，菜單式驅動，工業(yè)級Linux®操作系統(tǒng)，分析速度快, 僅需2秒鐘就可識別合金元素。
13. 儀器具有很好的平衡性，在測試時能立于工作臺上，一鍵式按鈕設計，即使長時間操作也無疲勞感。
14. 工業(yè)級IP55防護等級可觸摸的顯示屏與主機一體化密封設計，可承受野外惡劣的工作環(huán)境。
15. 堅固耐用：通過美軍標準MIL-STD810G的4英尺（1.22m）高空跌落測試；
16. 無需借助電腦，可在現場隨意指定，查看，放大相關元素的光譜圖。
17. 密碼保護：開機需輸入用戶名和密碼進行登錄；
18. 操作語言：英語、法語、西班牙語、德語、日語、簡體中文、意大利語、俄羅斯語、葡萄牙語、捷克語等13種供選，自由切換；
19. 電磁干擾被屏蔽，即使在靠近手機或雙向無線通信裝置處也能正常工作。
20. 多個數據接口：多種方式傳輸數據，結果導出更加方便，快捷。

四、Vanta V2CA元素分析儀應用

鍍層種類及厚度測試

在電鍍行業(yè)，可無損地測量各種基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上金屬鍍層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等），為電鍍配方和工藝的開發(fā)及生產過程和電鍍產品的質量提供有力證據。

Pt/C催化劑中鉑載量測試：

燃料電池結構中*核心的兩個部件為MEA和雙極板，MEA是集膜、催化層、擴散層于一體的組合件。MEA主要由電催化劑、固體電解質膜和氣體擴散層組成.目前使用的電催化劑主要為Pt/C催化劑.

Olympus 便攜式元素分析儀能快速檢測Pt/C催化劑中Pt載量，速度快且準確無損。

合金材料鑒別（PMI）：

來料檢驗；庫存材料管理；安裝材料復檢

由于在石化建設，金屬冶煉，壓力容器，電力電站，石油化工，精細化工，制藥，航空航天等行業(yè)中，混料或使用不合格的材料會產生嚴重的**事故。

Olympus 便攜式XRF 元素分析儀用以確保生產設備與管道中所使用的合金零部件與設計要求的規(guī)格完全一致。

Olympus 便攜式XRF 元素分析儀攜帶方便，使用簡單，分析速度快，精度高，其結果直接顯示合**號、金屬成分的百分比含量，從而使Olympus 便攜式XRF 元素分析儀成為合金材料鑒別的全世界**供應商。

金屬廢料回收

廢舊金屬的回收、再利用需要Olympus 便攜式XRF 元素分析儀，確保對大量繁雜多樣的合金種類及材料品質，進行現場快速準確的分析檢測。為購銷雙方在原材料交易時作出迅速、可靠的判定，并提供必要的信息。

質量保證與質量控制（QA/QC）

在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質量保證與質量控制（QA/QC）是必不可少的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。Olympus 便攜式XRF 元素分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機制造商的各種制造業(yè)。已成為質量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的**儀器。

五、可分析的元素

可分析從從鎂 (Mg)到鈾 (U)之間的所有多種元素。

六、奧林巴斯手持式XRF元素分析儀技術規(guī)格