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覆層及涂鍍層測厚儀簡述

覆層及涂鍍層測厚儀簡述簡述：

　　現(xiàn)實(shí)生活中對材料覆蓋層的測量，已逐漸引入微機(jī)技術(shù)，覆層測厚儀采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化發(fā)展。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。而且是無損測量，既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。其基本原理是結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。
覆層測厚儀是zui新研發(fā)的新產(chǎn)品，與之前涂層測厚儀相比有以下主要優(yōu)點(diǎn):

1. 測量速度快:測量速度比其它TT系列快6倍;

2. 精度高 :產(chǎn)品簡單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場上*能達(dá)到A級的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高;

3. 穩(wěn)定性:測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品;

4. 功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文;

對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國家和國際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測量方法主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

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